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功率循環(huán)測試-簡介
功率循環(huán)測試是一種功率半導體器件的可靠性測試方法，被列為AEC-Q101與AQG-324等車規(guī)級測試標準內(nèi)的必測項目。與溫度循環(huán)測試相比，功率循環(huán)是通過器件內(nèi)部工作的芯片產(chǎn)生熱量，使得器件達到既定的溫度；而溫度循環(huán)則是通過外部環(huán)境強制被測試器件達到測試溫度。
簡而言之，一個是運動發(fā)熱，一個是高溫中暑。
由于在功率循環(huán)測試中的被測試器件的發(fā)熱部分集中在器件工作區(qū)域，其封裝老化（aging）模式與正常工作下的器件相類似，故功率循環(huán)測試被認可為最接近于實際應用的功率器件可靠性測試而受到廣泛的關注。
功率循環(huán)測試過程中，器件內(nèi)部溫度分布以及應力變化
功率循環(huán)測試臺是用于功率器件進行功率循環(huán)測試的設備，其設計原理并不復雜。在試驗臺中，通過電流源供給負載電流給被測試器件，電流/電壓探頭實時監(jiān)控被測試器件的電流/電壓數(shù)據(jù)，控制器操控電流源實現(xiàn)負載電流按既定時間中斷。設備整體的主要成本在電流源與控制器，設備的設計難度在于程序控制以及數(shù)據(jù)采集硬件。
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029-88225591
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