半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試儀系統(tǒng)
三代半：優(yōu)秀的性能應(yīng)對第三代半導(dǎo)體及傳統(tǒng)器件，Si, sic,GaN 器件
測試品類：覆蓋 25 類常見的電子元器件及 IC 類，且支持定制擴(kuò)展
功能豐富：輕松表征元器件“靜態(tài)特性”“IV 曲線”“Cxss”“CV”
分析篩選：功能全面，配置豐富，勝任實(shí)驗(yàn)室場景中各類電參數(shù)表征
量產(chǎn)測試：1h高達(dá) 7K~12K 的測試效率，可連接“分選機(jī)”“編帶機(jī)”Prober 接口、16Bin
一鍵加熱：一鍵脈沖自動(dòng)加熱至+130°C，耗時(shí)< 1s
高壓源：1400V (選配 2KV)
高流源：40A(選配 100A,200A,500A)
驅(qū)動(dòng)電壓：20V/10uA~100mA (選配+40V/10uA~100mA)
漏電測量：1nA 漏電持續(xù)穩(wěn)定測量，表現(xiàn)出優(yōu)秀的一致性和穩(wěn)定性，更有1.5pA 微電流測量選件可供選擇。
高精度：16 位 ADC/DAC，0.1%精度，1M/S采樣速率
程控軟件：基于Lab VIEW 平臺開發(fā)的填充式菜單軟件界面
夾具工裝：適配各類封裝形式的器件，自動(dòng)識別器件極性 NPN/PNP
校準(zhǔn)：系統(tǒng)自帶校準(zhǔn)軟件，也可通過 RS232 接口連接數(shù)字表進(jìn)行校驗(yàn)
