OptoCoupler Tester 1400V
STO1400 光耦測(cè)試儀，可測(cè)試各類光耦，如單通道、雙通道、多通道的模擬光耦，數(shù)字光耦，高速光 耦，線性光耦等。測(cè)試參數(shù)包括“耐壓 BVCEO/BVECO”、“輸入正向壓降 VF”、“輸出端反向漏電流 ICEO”、 “反向漏電流 IR”、“電流傳輸比 CTR”、“輸出導(dǎo)通壓降 VCE(sat)”、“開關(guān)時(shí)間 toff/ton”等。
一、光耦測(cè)試儀·產(chǎn)品信息
產(chǎn)品型號(hào)：STO1400
產(chǎn)品名稱：光耦測(cè)試儀；
主機(jī)尺寸：深 305*寬 280*高 120(mm)
主機(jī)重量：＜5Kg
主機(jī)功耗：＜75W
環(huán)境要求：-20℃～60℃（儲(chǔ)存）、5℃～50℃（工作）；
相對(duì)濕度：≯85%；
防護(hù)條件：無(wú)較大灰塵，腐蝕或爆炸性氣體，導(dǎo)電粉塵等；
電網(wǎng)要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；
工作時(shí)間：連續(xù)；
二、光耦測(cè)試儀·產(chǎn)品介紹
STO1400 光耦測(cè)試儀是一款布局緊湊、功能全面、界面友好、操作簡(jiǎn)潔的單機(jī)測(cè)試儀器。專為各類光耦 參數(shù)測(cè)試而設(shè)計(jì)開發(fā)，可測(cè)試各類單通道、雙通道、多通道的模擬光耦，數(shù)字光耦，高速光耦，線性光耦 等。測(cè)試參數(shù)包括“耐壓 BVCEO/BVECO”、“輸入正向壓降 VF”、“輸出端反向漏電流 ICEO”、“反向 漏電流 IR”、“電流傳輸比 CTR”、“輸出導(dǎo)通壓降 VCE(sat)”“開關(guān)時(shí)間”......可測(cè)具體參數(shù)數(shù)值也可以 進(jìn)行篩選性測(cè)試，既合格/不合格(OK/NO)。
STO1400 光耦測(cè)試儀產(chǎn)品前面板設(shè)有“顯示屏區(qū)域”“操作按鍵區(qū)域”“接口區(qū)域”?；陲w思卡爾 16
位單片機(jī)編程的操作程序包含測(cè)試程序編輯、程序調(diào)用、數(shù)據(jù)保存、功能類型等常規(guī)設(shè)置。10 檔位分檔設(shè) 計(jì)，耐壓測(cè)試電壓 1400V/可擴(kuò)展，測(cè)試正向壓降和輸出電流可達(dá) 1A/可擴(kuò)展
三、光耦測(cè)試儀·應(yīng)用場(chǎng)景
1、測(cè)試分析（功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測(cè)試，主要功能為曲線追蹤儀）
2、失效分析（對(duì)失效器件進(jìn)行測(cè)試分析，查找失效機(jī)理。以便于對(duì)電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過(guò)程提出改善方案）
3、選型配對(duì)（在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試，將測(cè)試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì)）
4、來(lái)料檢驗(yàn)（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
5、量產(chǎn)測(cè)試（可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備，實(shí)現(xiàn)規(guī)?；?、自動(dòng)化測(cè)試）
6、替代進(jìn)口（STO1400 光耦測(cè)試儀可替代同級(jí)別進(jìn)口產(chǎn)品）
四、光耦測(cè)試儀·產(chǎn)品特點(diǎn)
※ 大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡(jiǎn)潔,操作方便簡(jiǎn)單.
※ 大容量 EEPROM 存儲(chǔ)器,儲(chǔ)存量可多達(dá) 1000 種設(shè)置型號(hào)數(shù).
※ 全部可編程的 DUT 恒流源和電壓源.
※ 內(nèi)置繼電器矩陣自動(dòng)連接所需的測(cè)試電路,電壓/電流源和測(cè)試回路.
※ 高壓測(cè)試電流分辨率 1uA,測(cè)試電壓最高可達(dá) 1400V.
※ 重復(fù)”回路”式測(cè)試解決了元件發(fā)熱和間歇的問題.
※ 軟件自校準(zhǔn)功能
※ 自動(dòng)模式:自動(dòng)檢測(cè)有無(wú) DUT 放于測(cè)試座中,有則自動(dòng)處于重復(fù)測(cè)試狀態(tài),無(wú)則處于重復(fù)檢測(cè)狀態(tài).
※ 手動(dòng)模式：剛開始未測(cè)試時(shí)屏幕白屏屬正?，F(xiàn)象，當(dāng)測(cè)試開關(guān)按下后才自動(dòng)對(duì)測(cè)試座中的 DUT 進(jìn)行檢測(cè) 測(cè)試，長(zhǎng)按開關(guān)不松開則處于重復(fù)測(cè)試狀態(tài),松開開關(guān)則自動(dòng)停止測(cè)試。
※ 基于大規(guī)模微處理器設(shè)備,當(dāng)用戶選定了設(shè)置好的型號(hào)時(shí),在手動(dòng)測(cè)試時(shí),按下測(cè)試開關(guān),使測(cè)試機(jī)開始執(zhí)行功能檢測(cè),自動(dòng)測(cè)試過(guò)程將在 STO1400 的測(cè)試座上檢測(cè) DUT 短路,開路或誤接現(xiàn)象,如果發(fā)現(xiàn),就立即停止測(cè)試.功能測(cè)試主要保護(hù) DUT 不被因型號(hào)選錯(cuò)而測(cè)壞元件，※ DUT 的功能測(cè)試通過(guò)過(guò),LCD 顯示出 DUT 的引腳排列(P_XXX)
※ 測(cè)試方式(手動(dòng)/自動(dòng))并繼續(xù)進(jìn)行循環(huán)測(cè)試,顯示測(cè)試結(jié)果是否合格,并有聲光提示.
※ 在測(cè)試時(shí),能自動(dòng)識(shí)別引腳功能,并自動(dòng)轉(zhuǎn)換矩陣開關(guān)進(jìn)行參數(shù)測(cè)試.測(cè)試后顯示對(duì)應(yīng)引腳功能號(hào)
五、光耦測(cè)試儀·測(cè)試種類及參數(shù)
4.1、可測(cè)器件的類型
單通道、雙通道、多通道的模擬光耦，數(shù)字光耦，高速光耦，線性光耦。如 PC817 TLP521 NEC2501 等類型。
4.2、引腳定義
AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C 極
4.2、測(cè)試參數(shù)
(1) 正向電壓 VF
(2) 正向電流 IF
(3) 擊穿電壓 VR
(4) 反向電流 IR
(5) 輸出低電平電源電流 ICCL
(6) 輸出高電平電源電流 ICCH
(7) 使能端高電平電壓 VEH
(8) 使能端低電平電壓 VEL
(9) 使能端高電平流 IEH
(10) 使能端低電平流 IEL
(11) 輸出端高電平電壓 VOH
(12) 輸出端低電平電壓 VOL
(13) 輸出端高電平電流 IOH
(14) 輸出端低電平電流流 IOL
(15) 電流傳輸比 CTR
(16) 輸出上升時(shí)間 Tr
(17) 輸出下降時(shí)間 Tf
(18) 上升傳輸延遲時(shí)間 tpLH
(19) 下降傳輸延遲時(shí)間 tpHL
4.3、參數(shù)定義
(1) VF：IF: 光耦輸入正向 VF 壓降時(shí)的測(cè)試電流.(2) Vce:Bv:光耦輸出端耐壓 BVCE 時(shí)輸入的測(cè)試電壓.
(3) Vce:Ir: 光耦輸出端耐壓 BVCE 時(shí)輸入的測(cè)試電流.
(4) CTR:IF:光耦傳輸比時(shí)輸入端的測(cè)試電流。
(5) CTR:Vce:光耦傳輸比時(shí)輸出端的測(cè)試電壓。
(6) Vsat:IF:光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸入端的測(cè)試電流。
(7) Vsat:Ic:光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸出端的測(cè)試電流。
六、光耦測(cè)試儀·技術(shù)規(guī)格
低配版·STO1400 光耦測(cè)試儀
STO1400光耦測(cè)試儀，可測(cè)試各類光耦，如單通道、雙通道、多通道的模擬光耦，數(shù)字光耦，高速光耦，線性光耦等。測(cè)試參數(shù)包括“耐壓BVCEO/BVECO”、“輸入正向壓降VF”、“輸出端反向漏電流 ICEO”、“反向漏電流 IR”、“電流傳輸比 CTR”、“輸出導(dǎo)通壓降 VCE(sat)”“開關(guān)時(shí)間toff/ton”等編輯
