- 產(chǎn)品功能
- 量程精度
- 測試原理
- 配置選型
- 常見問答
適用于各種封裝類型的 Diode、BJT、MOS-FET、SCR、橋堆、IGBT 單管/模塊、IPM 模塊等環(huán)境老化試驗
包括高溫反偏/HTRB,高溫柵偏/HTGB,高溫高濕反偏試驗/H3TRB,其中 HTRB 和 HTGB 可二合一
漏電流檢測 1nA~20mA,高壓 2000V@3000V


服務(wù)熱線:
029-88225591
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適用于各種封裝類型的 Diode、BJT、MOS-FET、SCR、橋堆、IGBT 單管/模塊、IPM 模塊等環(huán)境老化試驗
包括高溫反偏/HTRB,高溫柵偏/HTGB,高溫高濕反偏試驗/H3TRB,其中 HTRB 和 HTGB 可二合一
漏電流檢測 1nA~20mA,高壓 2000V@3000V