半導(dǎo)體分立器件參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
陜西天士立科技有限公司/STD2000/半導(dǎo)體分立器件參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)可以測(cè)試Si,SiC,GaN&IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR等電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)和IV曲線 (如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導(dǎo)通內(nèi)阻Rds(on))。...
發(fā)布日期:2024-07-04 閱讀次數(shù):275 查看詳情 >>